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Practicality of Evaluating Soft Errors in Commercial sub-90 nm CMOS for Space Applications

机译：用于太空应用的商用90 nm以下CMOS软错误评估的实用性

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The purpose of this presentation is to: Highlight space memory evaluation evolution, Review recent developments regarding low-energy proton direct ionization soft errors, Assess current space memory evaluation challenges, including increase of non-volatile technology choices, and Discuss related testing and evaluation complexities.

机译：本演讲的目的是：重点介绍空间记忆评估的发展，回顾有关低能质子直接电离软错误的最新进展，评估当前的空间记忆评估挑战，包括增加非易失性技术选择，以及讨论相关的测试和评估复杂性。

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作者
LaBel, Kenneth A.; Pellish, Jonathan A.;
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作者单位

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年度 2010
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